• JEM-2100F电子显微镜 产品型号:JEM-2100F
    JEM-2100F配备的场发射电子枪(FEG)能获得亮度高、相干性高、稳定性高的电子束,能简便地进行纳米级超高分辨率图像的观察和分析。此外,利用PC的网络功能,可实现与各种分析仪器及图像仪器的联用。

产品介绍
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产品特点:
JEM-2100F配备的场发射电子枪(FEG)能获得亮度高、相干性高、稳定性高的电子束,能简便地进行纳米级超高分辨率图像的观察和分析。此外,利用PC的网络功能,可实现与各种分析仪器及图像仪器的联用。
高分辨率观察及纳米尺度分析所不可或缺的集成化透射电镜
配备了高亮度、高稳定性的场发射电子枪,使高倍率下的结构分析及纳米领域分析更加简便。束班直径范围可从微米级到最小的0.5nm,在分析点上能容易地进行纳米级的终极分析。
新式侧插式测角台
能很容易地改变样品的物理条件如倾斜、旋转、加热、制冷等,可以进行纳米级的分析。
智能化
图像观察和PC控制的一体化设计。


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